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半導体テストとは、半導体製品に電気を流して正常に動作するかを検査することです。

検査には半導体テスト装置が使用されます。検査対象の半導体製品ごとに作成したテストプログラムを元に入力信号を生成し、出力信号を期待値として比較します。検査は、前工程と呼ばれる半導体ウェハーへの回路生成後と、後工程と呼ばれる半導体製品組み立て後に実施されます。

半導体テスト治具は、半導体テストにおいて半導体製品と半導体テスト装置をつなぐ役割を果たします。当社は、前工程で使用するプローブカード（プローブヘッド）と後工程で使用するテストソケットを世界中の半導体製品メーカーやその関連企業に提供しています。