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COMPONENTS FOR SEMICONDUCTOR INSPECTION EQUIPMENT

半導体検査装置用部品 (コンタクトプローブ関連製品)

当社が独自に開発した新構造コンタクトプローブを「マイクロコンタクタ」として製造・販売しています。

マイクロコンタクタは、半導体ウェハーや半導体パッケージの電気特性テストに使用されています。各種製品は、自社工場で生産しており、お客様のニーズに合わせたカスタムデザインが可能です。

コンタクトプローブ「マイクロコンタクタ」の強み

 

半導体テスト治具に使用される当社製プローブ「マイクロコンタクタ」、5つの強みをご紹介します(英語のみ)。

 

半導体テスト治具とは

半導体テストとは、半導体製品に電気を流して正常に動作するかを検査することです。

検査には半導体テスト装置が使用されます。検査対象の半導体製品ごとに作成したテストプログラムを元に入力信号を生成し、出力信号を期待値として比較します。検査は、前工程と呼ばれる半導体ウェハーへの回路生成後と、後工程と呼ばれる半導体製品組み立て後に実施されます。

半導体テスト治具は、半導体テストにおいて半導体製品と半導体テスト装置をつなぐ役割を果たします。当社は、前工程で使用するプローブカード(プローブヘッド)と後工程で使用するテストソケットを世界中の半導体製品メーカーやその関連企業に提供しています。

半導体製造工程と当社のコンタクトプローブ関連製品を示した図
半導体製造工程と当社のコンタクトプローブ関連製品
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コンタクトプローブ

半導体製品テストで使用される検査端子です。半導体テスト装置から出力された電気信号は、コンタクトプローブを通して半導体製品へと送られます。

テストソケット

テストソケット

半導体製造工程の「後工程」と呼ばれる半導体製品組み立て後の最終検査に用いる検査治具です。

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検査特性

200μmピッチ以下の狭ピッチユニットや、高周波測定についてご紹介します。