半導体検査装置部品
（コンタクトプローブ関連製品） Components For Semiconductor Inspection Equipment

20GHz以上の高周波測定では測定治具の影響も無視出来なくなるため、専用の測定治具を自社開発して測定することで、測定時の影響を最小限に抑えています。

測定と解析の結果は一致しており、お客様から高く評価されています。
測定、解析したTouch stone file (.sNp)を送付することも可能ですので、お客様自身で周辺デバイスと接続したときの波形やEye-Patternを確認することが出来ます。

GND-Signal-GND配列の測定、解析を基本としていますが、多ピンやX-talkの解析もお客様の要望に合わせて柔軟に対応しております。

プローブは周辺デバイスの影響を受けるため、お客様の基板のインピーダンスと一致させることが重要になります。お客様から基板の情報をいただいて、プローブのインピーダンスを近づけることも可能ですので、ぜひご相談ください。