半導体検査装置用部品
(コンタクトプローブ関連製品)
Components For Semiconductor Inspection Equipment
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コンタクトプローブ
コンタクトプローブは、半導体製品テストで使用される検査端子です。半導体テスト装置から出力された電気信号は、コンタクトプローブを通して半導体製品へと送られます。
コンタクトプローブの先端形状
当社製コンタクトプローブ「マイクロコンタクタ」は、半導体製品に合わせて、様々な先端形状の加工が可能です。
先端形状の設計から加工まで、自社工場内で一貫して行うことができ、お客様のご要望に合わせた特殊形状のご提案も可能です。