半導体検査装置用部品
(コンタクトプローブ関連製品) Components For Semiconductor Inspection Equipment

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コンタクトプローブ

コンタクトプローブは、半導体製品テストで使用される検査端子です。半導体テスト装置から出力された電気信号は、コンタクトプローブを通して半導体製品へと送られます。

マイクロコンタクタ(SCPシリーズ)

マイクロコンタクタ(SCPシリーズ)

SCPシリーズは、半導体検査装置に使用されるコンタクトプローブの一種で、独自のコイリング技術により低抵抗を実現します。

マイクロコンタクタ(HCPシリーズ)

マイクロコンタクタ(HCPシリーズ)

HCPシリーズは、半導体検査装置に使用されるコンタクトプローブの一種で、電気的安定性の向上に役立ちます。

マイクロコンタクタ(NICシリーズ)

マイクロコンタクタ(NICシリーズ)

NICシリーズは、半導体検査装置に使用されるコンタクトプローブの一種で、高周波特性を持っています。

コンタクトプローブの先端形状

当社製コンタクトプローブ「マイクロコンタクタ」は、半導体製品に合わせて、様々な先端形状の加工が可能です。

先端形状の設計から加工まで、自社工場内で一貫して行うことができ、お客様のご要望に合わせた特殊形状のご提案も可能です。102-1先端形状202306